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HOME > 기술연구소 > LCD 검사 알고리즘 개발
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 TFT LCD Cell Configuration
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| <그림출처 : 네이버 이미지> |
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LCD Cell & Moudle Inspection System |
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일반적인 LCD Cell은 위 그림과 같은 구조로 이루어져 있고, 각 유리기판이나 액정에 유입된 이물, TFT Array의 이물 또는 전기적원인등에 의해 Dot, Line 및 얼룩 형태의 불량이 발생하게 되며, 불량 제품이 Module 조립공정으로 유츨되면 막대한 원가손실을 초래하게 된다.
기존 품질검사는 작업자들에 의해 이루어졌으나, 작업자들의 교육, 건강 및 업무 태도에 따라 판정기준이 서로 다를수 있다.
본 LCD Inspection System은 정확한 불량 검출 및 데이터에 의한 체계적인 공정개선, 작업시간 단축 및 효율적인 작업자 운용을 보조하여 불량의 누출을 예방하여 생산성을 극대화 하도록 개발되었다. |
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본 제품의 특징 |
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LCD 구동 현태로 인해, 특정화면을 Display하고 Camera를 통해 영상을 취득한 후, 폐사 고유의 강력한 Image Processing 알고리즘을 적용하여 불량유무를 판정한다.
따라서, 화면 Display에 필수적인 Auto Probe와 특정화면을 Display하기 위한 Pattern Generator와 같은 장비가 연동되어야 한다. |
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| * 본 LCD 검사장비는 Stand Alone과 Inline 모두 적요되고 있으며, 작업자에 비해 탁월한 불량 무출 방지 효과와 단축된 Tact Time으로 한국과 중국의 생산 현장에서 생산량의 극대화를 실현하고 있습니다. |
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 Top of page
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Dot 결함 검사 사진 |
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Line 결함 검사 사진 |
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MURA 결함 검사사진 |
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위의 그림은 일반적인 TFT LCD Cell의 구조를 나타내고 있다.
