로그인   사이트맵   관리자메일   English   Chinese

- BLU Inspection System for Mobile
-

BLU Inspection System for TV &
Monitor
- BLU In-line Assembly Machine
- FPCB & LGP Assembly Machine
- BLU SUB2 Assembly Machine
- BLU Main Assembly Machine
-

LCD Cell Inspection System for
TV & Monitor
-

LCD Cell Inspection System for
Mobile
-

LCD Module Inspection System
for Mobile
- OLED Inspection System
- 고정밀 위치 결정용 Alignment
- Appication Field
- Roll to Roll Inspection System
-

Touch Panel Window Inspection
System
- Cover Glass Inspection System
Solar Cell Inspection System

HOME > 제품소개 > F/A & Vision Solution

 

SH-3000

 

 System Specification

Measurement

1. Thickness & Flatness           2. Bow & 15 points Warp

Wafer Inner Inspection

1. Micro Crack Detection           2. Inner Bubble & Defects Detection

Wafer Surface Inspection

1. Surface Crack Detection
2. Detection of the Foreign Material and the Contamination of the Wafer Surface
3. Edge Chipping Detection
4. Saw Mark Detection
5. Size Measurement
6. Squareness & Parallelization

제품카탈로그

 

문의 02-465-9020

    ※User 요구 사항에 따라 System Customize 가능합니다.

 

 

 Solar Cell 검사 시스템

Solar Wafer 생산라인은 표준화와 자동화가 이루어지지 않아 대량 생산이 어렵고 공정 최적화를 구축하기 어렵다는 문제점이 있습니다.
본 장비는 Vision 검사 기술이 도입된 자동화 시스템이며

레이저 기술을 이용한 두께 편차 측정 기법 (ASTM 표준)
Micro Crack 및 내부 결함 검출
Inline과 부분 자동 검사 모두 적용
기하학 & 광학적인 Solar Cell Wafer 불량 검출
3D Wafer Drawing

 

    등의 기술 개발을 통한 검사 자동화를 실현하였습니다. 이를 통하여 안정된 품질과 생산 효율을 높일 수 있을
    것으로 기대합니다.

 

 

Top of page